Postoperative Lageüberprüfung des Elektrodenarrays mittels Messungen des lokalen evozierten Potenzials bei Patienten mit auditorischem Hirnstammimplantat

Einleitung Eine Elektrodenmigration bei Patienten mit auditorischem Hirnstammimplantat (ABI) kann – insbesondere bei Kindern – zur Ablehnung des Sprachprozessors führen. Die bildgebende Überprüfung der Elektrodenlage ist aufwändig und stellt zudem eine Strahlenbelastung dar. Für die regelmäßigen Nachsorgeuntersuchen ist die Messung des elektrisch evozierten Potenzials (LEP) (Gärtner et al. 2021, DOI: 10.1371/journal.pone.0249535) eine Alternative.

Material/Methode Fallbeschreibung: Ein mit ABI versorgtes Kind verweigerte nach einer Kieferoperation das Tragen des Sprachprozessors. Die Messung der LEP-Schwelle deutete auf eine leichte Migration der Elektrode in Richtung des Ventrikels hin.

Ergebnisse Basierend auf den neu ermittelten LEP-Schwellen wurde eine Umprogrammierung mit deutlich geänderten Stimulationswerten vorgenommen. Das Programm wurde durch Beobachtung der Reaktion des Kindes weiter verfeinert. Danach konnte der Sprachprozessor wieder getragen werden.

Diskussion LEP-Messungen dienen der regelmäßigen postoperativen Kontrolle der Position des ABI-Elektrodenarrays und können zu diesem Zweck auch intraoperativ während der ABI-Chirurgie verwendet werden. Die gemessenen LEP-Schwellen unterstützen die Anpassung des Sprachprozessors während der Nachsorge.

Publikationsverlauf

Artikel online veröffentlicht:
19. April 2024