DOI:
10.1055/s-00000112
ZWR - Das Deutsche Zahnärzteblatt
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Referenz
Stavrianos C, Gogos C.
Methodi exalipsis tou paragonta epireasmou tis axiopistias ton ilektrometrikon siskevon. (Methoden zu Vernichtung des Einflussfaktors der Zuverlässigkeit von endometrischen Geräten).
Sychronos Odondiatros 1996; 16: 45-57
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