Verfahren zur on-line-Minimierung von Lidschlag- und vertikalen Augenbewegungsartefakten im EEG

Summary

The analysis of electroencephalograms and event-related potentials may be difficult by the presence of eyelid and eye movement artifacts. In this paper a method is described, which allows a relatively simple on-line correction of vertical ocular activity, measurable by electooculogram, in several EEG channels. Eyelid and eye movement artifacts are being manifest in a different extension at a different EEG recording position. Using the electrooculogram, with the aid of a simple electronic device it is possible to differ between eyelid and eye movement artifacts, which will be corrected selectively. If only midline derivations are evaluated (Fz, Cz, Pz) the vertical EOG is sufficient and horizontal EOG may be left out from the correcting procedure. The efficiency of the procedure is proved by EEG and ERP records.

Zusammenfassung

Die Analyse von Elektroenzephalogrammen und ereignisbezogenen Potentialen kann durch Lidschlag- und Augenbewegungsartefakten wesentlich erschwert werden. In diesem Artikel wird ein on-line Verfahren beschrieben, das eine relativ einfache Korrektur der vertikalen Augenaktivität, die mit Hilfe des Elektrookulogramms meßbar ist, an mehreren EEG-Ableitungen erlaubt. Lidschlag- und Augenbewegungsartefakte manifestieren sich in unterschiedlicher Ausprägung an einer jeweiligen EEG-Ableitposition.

Mit Hilfe einer einfachen elektronischen Schaltungsanordnung kann anhand der EOG-Aktivität zwischen Lidschlag- und Augenbewegungsartefakten unterschieden werden, die dann selektiv korrigiert werden können. Werden nur EEG-Ableitungen von der Mittellinie benutzt, kann auf die Korrektur des horizontalen EOG verzichtet werden. Die Effizienz des Verfahrens wird durch EEG-und ERP-Ableitbeispiele nachgewiesen.

Key words:

Electroencephalogram - Event-related potentials - Eyelid and eye movement artifacts - On-line EOG correcting procedure